雙用單站測試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 雙用單站測試分類機(jī)
產(chǎn)品型號: 3110
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
雙用單站測試分類機(jī)
適用于終端測試或系統(tǒng)功能測試
自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動(dòng)分類的功能
測頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的沖擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃)
可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)，可自動(dòng)搜集與分析測試、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)
雙用單站測試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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雙用單站測試分類機(jī)
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適用于終端測試或系統(tǒng)功能測試
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自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動(dòng)分類的功能
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測頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的沖擊
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智能型的載盤IC殘留偵測
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可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃)
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可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
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理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)，可自動(dòng)搜集與分析測試、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)
3110是一臺(tái)雙用單站的Pick&Place測試分類機(jī)，支持各種不同類型封裝的芯片，如BGA, μBGA, QFP系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分類機(jī)運(yùn)用Pick&Place技術(shù),將待測芯片由進(jìn)料艙移至測試區(qū)，再依測試結(jié)果進(jìn)行分類。3110不但適用于系統(tǒng)功能檢測，也同時(shí)具備終端電性測試的能力。可綜合各組件的整體效能并執(zhí)行測試系統(tǒng)上的所有測試程序，旨在提供一個(gè)全能的解決方案。
支持的芯片尺寸從3x3mm到55x55mm，配備有自動(dòng)進(jìn)出料分類艙及手動(dòng)分類盤，可*優(yōu)化工程測試的實(shí)驗(yàn)數(shù)量。簡易操作的操控畫面，及適配性高的Testers連接接口，大幅提升機(jī)臺(tái)的使用率及共享性。除此之外，它能針對不同的測試環(huán)境條件，提供數(shù)個(gè)溫控系統(tǒng)的選擇，如三溫控制系統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等，測試的環(huán)境溫度可設(shè)置于常溫、高溫或低溫。
Chroma溫控解決方案
三溫變溫控制
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Temperature accuracy: ±2℃
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Device temperature feedback (Thermocouple/RTD/Thermistor)
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PWM TE Power Control
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Die force control
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Modularized dry air chamber
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Water chiller
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Dry air supplier
主動(dòng)熱控模塊 (ATC)
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Temperature accuracy: ±2℃
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Test arm all in one
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Device temperature feedback
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PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
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PWM TE Power Control
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Die force control
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Closed-loop cooling system (no external piping)
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Chamber-less
高解熱溫控模塊 (PTC)
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Temperature range: <85℃ (up to 300W dissipation)
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Closed-loop cooling system (no external piping)
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Test arm all in one
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Die force control
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Neither water chiller nor dry air supplier
