超快 IV、脈沖 IV 和瞬時 IV 測量逐漸成為進行下一代半導體、器件和材料研發(fā)的一項常見要求。Agilent B1500A 系列中的 Agilent B1530A 波形發(fā)生器/快速測量單元（WGFMU）是針對上述時間相關測量的*佳測量模塊。這些測量通常是由脈沖發(fā)生器和示波器共同完成，然而負載線效應（剩余電阻導致的壓降誤差）會對測量精度產(chǎn)生不利影響。B1530A WGFMU 結(jié)合了任意波形生成功能，在高速 IV 測量方面有良好的應用。安捷倫獨有的動態(tài) SMU 技術(shù)消除了負載線效應，與基于脈沖發(fā)生器的解決方案相比，它可使用戶執(zhí)行更**、更靈敏的測量。儀器非常適合執(zhí)行超快 IV 測量、脈沖 IV 測量和瞬時 IV 測量，例如超快 NBTI 和 RTN 測量。

動態(tài)范圍調(diào)節(jié)特性可實現(xiàn)更寬泛的電流范圍，提供**而快速的測量

另一個挑戰(zhàn)是超快 IV、脈沖 IV 和瞬時 IV 測量的靈敏度。脈沖底部和脈沖峰值之間的流動電流是不同階的，部分器件顯示了所應用的波形導致阻抗出現(xiàn)急劇變化。Agilent B1530A 能夠指定任意點上的測量范圍，任意波形輸出范圍會發(fā)生顯著變化。因此，*佳測量范圍和分辨率將會實現(xiàn)高精度測量。

即用型應用軟件適用于先進的器件測試，包括 RTN（隨機電報噪聲）、超快 NBTI/PBTI、脈沖 IV 和瞬時 IV 測量

B1530A WGFMU 擁有先進的測量功能，能夠勝任傳統(tǒng)測量儀器無法執(zhí)行的測量任務。B1530A WGFMU 支持高速、高靈敏度的測量，可在低于 µs 的范圍內(nèi)進行器件表征。該軟件非常適合執(zhí)行超快 NBTI/PBTI 和 RTN 等測量，這些測量對于實現(xiàn)先進半導體的高可靠性具有重要意義。Agilent B1500A 提供即用型應用軟件，可快速執(zhí)行測量。