彈性化架構(gòu) 
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長(zhǎng)時(shí)間需求的設(shè)備之 上。Chroma3650在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測(cè)試模組、ALPG記 憶體測(cè)試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測(cè)試模組等等選配，以確保符合未來(lái)多年的 測(cè)試需求。

CRISP (軟體測(cè)試環(huán)境) 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的 軟體測(cè)試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī) 臺(tái)管理模組。透過(guò)親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計(jì)，CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯(cuò)工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測(cè)試 參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評(píng)估其測(cè)試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過(guò)特別為操作員所設(shè)計(jì) 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺(tái)，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測(cè)試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來(lái)控制 Chroma 3650、 晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇 程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的流 程，即可開(kāi)始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時(shí) 間。

*低價(jià)位的測(cè)試解決方案 
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強(qiáng)大而且多樣化的測(cè)試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成本 效益的測(cè)試解決方案，必須藉由降低測(cè)試時(shí)間和 整體成本來(lái)達(dá)成，而非只是簡(jiǎn)單地減少測(cè)試系統(tǒng) 的價(jià)格而已。Chroma 3650的設(shè)計(jì)即是可適用于 所有類(lèi)型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn)證、晶圓測(cè) 試和成品測(cè)試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應(yīng)用支援 
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場(chǎng)的機(jī)會(huì)、提高生產(chǎn)力、以** 策略降低測(cè)試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會(huì)竭盡 所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。